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  三豐粗糙度輪廓測量儀

Formtracer(表面粗糙度/輪廓測量裝置)SV-C3100/SV-C4100


商品簡介:大幅提高的驅(qū)動速度(X軸:80mm/s,Z2軸立柱:20mm/s)進(jìn)一步減少了總的測量時間。為了更長時間地保持直線度,三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導(dǎo)軌;驅(qū)動器(X軸)和立柱(Z2軸)均配備了高精度線形編碼器(其中Z2軸上為ABS型)。因此,在垂直方向?qū)π】走B續(xù)自動測量、對較難定位部件的重復(fù)測量的重復(fù)精度得以提高。

詳細(xì)描述
Formtracer(表面粗糙度/輪廓測量裝置)SV-C3100/SV-C4100
525系列—表面粗糙度/輪廓測量儀
特點
大幅提高的驅(qū)動速度(X軸:80mm/s,Z2軸立柱:20mm/s)進(jìn)一步減少了總的測量時間。
為了更長時間地保持直線度,三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導(dǎo)軌;
驅(qū)動器(X軸)和立柱(Z2軸)均配備了高精度線形編碼器(其中Z2軸上為ABS型)。因此,在垂直方向?qū)π】走B續(xù)自動測量、對較難定位部件的重復(fù)測量的重復(fù)精度得以提高。

表面粗糙度測量
直線度:±(0.05+0.001L)μm*專用于需要高精度測量的工件。
*S4型、H4型、W4型;L為驅(qū)動長度(mm)
符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的國際標(biāo)準(zhǔn)。
標(biāo)準(zhǔn)配置:高精度測頭(0.75mN/4mN測力),分辨率高至0.0001μm。

自動測量
在與CNC機(jī)型配套使用的眾多外設(shè)選件的支持下,可實現(xiàn)自動測量。

輪廓驅(qū)動測量
X軸精度:±(0.8+0.01L)μm*Z1軸精度:±(0.8+I0.5HI/25)μm*專用于需要高精度測量的工件。
*SV-C4100S4型、H4型、W4型;L為驅(qū)動長度,H為測量高度(mm)
SV-C4100系列的輪廓驅(qū)動器配備了激光全息測微計測頭,Z1軸寬/窄范圍均能達(dá)到極高的精度和分辨率。

基本技術(shù)參數(shù):
基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm
基座材料:花崗巖
重量
主機(jī):140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)
140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)
控制器:14kg
遙控箱:0.9kg
電源:100–240VAC±10%,50/60Hz
能耗:400W(主機(jī))

輪廓測量技術(shù)參數(shù):
X軸
測量范圍:100mm或200mm
分辨率:0.05μm
檢測方法:反射型線性編碼器
驅(qū)動速度:80mm/s、外加手動
測量速度:0.02-5mm/s
移動方向:向前/向后
直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm
*以X軸為水平方向上
直線位移:±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)
精度(20°C時)±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)
±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)
±(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)
*L為驅(qū)動長度(mm)
傾角范圍:±45°
Z2軸(立柱)
垂直移動:300mm或500mm
分辨率:1μm
檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器
驅(qū)動速度:0-20mm/s、外加手動
Z1軸(檢測器)
測量范圍:±25mm
分辨率:0.2μm(SV-C3100),
0.05μm(SV-C4100)
檢測方法:線性編碼器(SV-C3100),
激光全息測微計(SV-C4100)
直線位移:±(2+I4HI/100)μm(SV-C3100)
精度(20°C時)±(0.8+I0.5HI/25)μm(SV-C4100)
*H:基于水平位置的測量高度(mm)
測針上/下運(yùn)作:弧形移動
測針方向:向上/向下
測力:30mN
跟蹤角度:向上:77°,向下:87°
(使用配置的標(biāo)準(zhǔn)測頭,依表面粗
糙度而定)
測針針尖尖端半徑:25μm、硬質(zhì)合金尖端

表面粗糙度測量的技術(shù)參數(shù):
X1軸
測量范圍:100mm或200mm
分辨率:0.05μm
檢測方法:線性編碼器
驅(qū)動速度:80mm/s
移動方向:向后
直線度:(0.05+1.5L/1000)μm(S4,H4,W4型)
0.5μm/200mm(S8,H8,W8型)
Z2軸(立柱)
垂直移動:300mm或500mm
分辨率:1μm
檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器
驅(qū)動速度:0-20mm/s、外加手動
檢測器
范圍/分辨率:800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,
8μm/0.0001μm
(2400μm使用測頭選件)
檢測方法:無軌/有軌測量
測力:4mN或0.75mN(低測力型)
測針針尖:金剛石、90o/5μmR
(60o/2μmR:低測力型)
導(dǎo)頭曲率半徑:40mm
檢測方法:差動電感式

軟件選件
DUALTRACEPAK
測量裝置可自動運(yùn)行,安裝了表面粗糙度驅(qū)動裝置后,表面粗糙度分析程序SURFPAK-SV自動啟動。同樣,安裝了輪廓驅(qū)動裝置后,形狀分析程序FORMPAK-1000也自動啟動。即使Formtracer已關(guān)閉,離線分析所需程序仍可從屏幕菜單中選出并運(yùn)行。

ForMTRACEPAK
使用該軟件可以控制馬達(dá)驅(qū)動的Y軸工作臺和旋轉(zhuǎn)臺選件,從而實現(xiàn)自動測量。使用該軟件還可以進(jìn)行輪廓評估,這項評估包括對級差,角度,深度,面積和其他基于表面粗糙度數(shù)據(jù)的特性進(jìn)行分析。另外,還可以通過設(shè)置打印格式建立原始檢測證書,以適應(yīng)不同的需求。

性能參數(shù):


型號

SV-C3100S4

SV-C3100S4

SV-C3100H4

SV-C3100H4

SV-C3100W4

SV-C3100W4

貨號(mm)

525-421-1*

525-421-2*

525-422-1*

525-422-2*

525-423-1*

525-423-2*

貨號(inch)

525-431-1*

525-431-2*

525-432-1*

525-432-2*

525-433-1*

525-433-2*

 

型號

SV-C4100S4

SV-C4100S4

SV-C4100H4

SV-C4100H4

SV-C4100W4

SV-C4100W4

貨號(mm)

525-461-1*

525-461-2*

525-462-1*

525-462-2*

525-463-1*

525-463-2*

貨號(inch)

525-471-1*

525-471-2*

525-472-1*

525-472-2*

525-473-1*

525-473-2*

X1軸測量范圍

100mm

100mm

100mm

100mm

100mm

100mm

檢測器測力

0.75mN

4mN

0.75mN

4mN

0.75mN

4mN

垂直移動

300mm電動立柱

500mm電動立柱

500mm電動立柱

花崗巖基座尺寸(WxD)

610x450mm

610x450mm

1000x450mm

尺寸(主機(jī)、WxDxH)

996x575x966mm

996x575x1176mm

1396x575x1176mm

重量(主機(jī))

140kg

150kg

220kg

 

 

 

 
電話 : 0571—86926991 86924782
傳真 : 0571—86924792
手機(jī)/微信:15088772190
郵箱 : toucan@126.com
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